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顏色測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)化之照明觀察幾何條件

發(fā)布時(shí)間: 2018-05-16  點(diǎn)擊次數(shù): 3039次

由于顏色視覺的復(fù)雜性,顏色測(cè)量和目視評(píng)價(jià)條件必須標(biāo)準(zhǔn)化,這樣結(jié)果才有可比性。根據(jù)照明委員會(huì)CIE的規(guī)定,顏色測(cè)量必須在以下三個(gè)方面實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)化:在計(jì)算被測(cè)量樣品的三刺激值時(shí), 照明光源選擇標(biāo)準(zhǔn)照明體,常用的標(biāo)準(zhǔn)照明體有A、C、D65;②計(jì)算被測(cè)量樣品的三刺激值時(shí), 要選用標(biāo)準(zhǔn)觀察者,小視場(chǎng)(1°~4°)選用CIE1931標(biāo)準(zhǔn)色度觀察者,大視場(chǎng)(10°)時(shí)選取用CIE1964標(biāo)準(zhǔn)補(bǔ)充色度觀察者;③測(cè)量裝置必須選擇標(biāo)準(zhǔn)化幾何條件(Geometry),即標(biāo)準(zhǔn)照明觀察條件。

 

2004年以前CIE推薦幾何條件

物體色的顏色測(cè)量是通對(duì)光譜或三刺激值的測(cè)量來實(shí)現(xiàn)的,因此測(cè)量結(jié)果與光源、探測(cè)器和樣品的相對(duì)位置關(guān)系,即幾何條件有關(guān)。同樣的,對(duì)顏色樣品的目視評(píng)價(jià)也會(huì)受照明和觀察的幾何條件影響,測(cè)量結(jié)果和目視評(píng)價(jià)的相關(guān)程度依賴于儀器測(cè)量的幾何條件對(duì)實(shí)際觀察時(shí)的幾何條件的模擬程度。在2004年之前,CIE根據(jù)人眼觀察物體的主要方式規(guī)定了4種反射測(cè)量的幾何條件和4種透射測(cè)量的幾何條件。以反射測(cè)量為例,如下圖所示,這些幾何條件包括:0/d(垂直照明/漫射接收),d/0(漫射照明/垂直接收),0/45(垂直照明/45°接收)和45/0 (45°照明/垂直接收)。

 

CIE在2004年以前的4種反射測(cè)量的幾何條件

根據(jù)CIE規(guī)定在0/45,45/0,d/0三種條件下測(cè)得的光譜反射因數(shù)稱為光譜輻亮度因數(shù),分別記為ρ0/45 、ρ45/0 、ρd/0 ;在0/d條件下測(cè)得的光譜反射因數(shù)稱為光譜反射比ρ。

2004CIE推薦幾何條件

隨著儀器制造業(yè)和其它顏色應(yīng)用的不斷發(fā)展,幾何條件的實(shí)現(xiàn)方式多種多樣,上述幾何條件的表示方法已經(jīng)不能全面地闡述測(cè)量狀態(tài)。例如規(guī)則反射成分或鏡面反射成分是否包含、45/0條件中入射光的實(shí)現(xiàn)方式等均未能在符號(hào)中表示。因此,CIE于2004年在其出版物中對(duì)幾何條件的表示方法進(jìn)行了修訂,并取消了儀器測(cè)量中“照明/觀測(cè)條件”的提法,代之以“幾何條件”以避免與目視觀察條件相混淆。

對(duì)于物體反射色度的測(cè)量,CIE規(guī)定了如下10種幾何條件

 (1) 漫射:8°幾何條件,包含鏡面成分;簡(jiǎn)寫符號(hào)為di:8°

這里,di 是 Diffusion 和Included的縮寫。如下圖所示,取樣孔徑被以其平面為界的半球內(nèi)表面從各個(gè)方向均勻地照明,測(cè)量區(qū)域過充滿。探測(cè)器對(duì)取樣孔徑區(qū)域的響應(yīng)均勻,反射光束軸線和樣品中心法線成8°角,在接收光束軸線5°內(nèi)的所有方向上認(rèn)為取樣孔徑反射的輻射是均勻的。

 

 

CIE的di:8°幾何條件

(2) 漫射:8°幾何條件,排除鏡面成分;簡(jiǎn)寫符號(hào)為de:8°

這里,de 是 Diffusion 和Excluded的縮寫。如下圖所示,首先滿足di:8°的條件,但是用一個(gè)光澤陷阱取代了di:8°的反射平面。因此將單面的平面反射鏡放置于取樣孔徑處時(shí),沒有光反射到探測(cè)器方向,并且在這個(gè)方向的1°以內(nèi)也沒有鏡面反射,以便為儀器雜散光或?qū)?zhǔn)誤差留有寬容度。

CIE的de:8°幾何條件

(3)  8°:漫射幾何條件,包含鏡面成分;簡(jiǎn)寫符號(hào)為8°:di

該幾何條件滿足di:8°的條件,但照明光源與探測(cè)器的光路相反。因此取樣孔徑被與法線成8°角的光照明,以參考平面為界的半球收集取樣孔徑反射的各個(gè)角度的通量,如下圖所示

CIE的8°:di幾何條件      

(4)  8°:漫射幾何條件,排除鏡反射成分;簡(jiǎn)寫符號(hào)為8°:de

該幾何條件滿足de:8°的條件,但照明光源與探測(cè)器的光路相反,如下圖所示。CIE的8°:de幾何條件

(5) 漫射/漫射幾何條件,簡(jiǎn)寫符號(hào)為d:d

該幾何條件的照明滿足di:8°的條件,且以參考平面為界的半球收集取樣孔徑反射的各個(gè)角度通量。

(6) 備選的漫射幾何條件(d:0°)

該幾何條件是備選漫射幾何條件,它的出射方向沿著樣品法線,這是嚴(yán)格的不包含鏡面反射的幾何條件。

(7) 45°環(huán)帶/垂直幾何條件(45°a:0°)

這里,a是annular的縮寫。如下圖所示,從頂點(diǎn)位于取樣孔徑中心,中心軸位于取樣孔徑法線上,半角分別為40°和50°的兩個(gè)正圓錐之間各個(gè)方向射來的光均勻地照明取樣孔徑;探測(cè)器從頂點(diǎn)位于取樣孔徑中心,中心軸沿樣品法線方向半角為5°的正圓錐內(nèi)均勻接收反射輻射。這種幾何條件可以將樣品質(zhì)地和方向的選擇性反射影響降至zui低。如果這種照明幾何條件是由多個(gè)光源以接近于形排列來近似得到,或者由多根出光口排列成圓形且被單個(gè)光源照明的光纖束近似得到,就得到圓周/垂直幾何條件(45°c:0°)。

CIE規(guī)定的45°a:0°幾何條件

(8) 垂直 /45°環(huán)帶幾何條件(0°:45°a)

其中角度和空間條件滿足45°a:0°的條件,但照明光源與探測(cè)器的光路相反。因此取樣孔徑被垂直照明,反射輻射被中心與法線成45°角的環(huán)帶接收。

(9) 45°單方位/ 垂直(45°x:0°)

其中角度和空間條件滿足45°a:0°的條件,但輻射只從一個(gè)方位角發(fā)出,這排除了鏡反射,但突出了質(zhì)地和方向性。符號(hào)中x表示入射光束從某任意方位照射參考平面。

(10) 垂直 45°單方位(0°:45°x)

其中角度和空間條件滿足45°x:0°的條件,但光路相反。因此樣品表面被垂直照明,從與法線成45°角的某個(gè)方位接收反射輻射。

CIE規(guī)定,在幾何條件符合(1)、(2)、(6)、(7)、(8)、(9)、(10)的情況下測(cè)量的結(jié)果是光譜反射因數(shù);當(dāng)測(cè)量張角足夠小時(shí),反射因數(shù)的量值與輻亮度因數(shù)的量值相同。符合幾何條件(3)且積分球?yàn)槔硐敕e分球時(shí),測(cè)量結(jié)果為反射比,也是臺(tái)式分光光度計(jì)zui常采用的幾何條件。因此在45°x:0°條件可以給出輻亮度因數(shù)β45:0;在0°:45°x條件下可以給出輻亮度因數(shù)β0:45;在di:8°條件下可以給出輻亮度因數(shù)βdi:8,它接近于輻亮度因數(shù)βd:0;在8°:di條件的測(cè)量結(jié)果是反射比ρ。

 

對(duì)于透射物體的顏色測(cè)量,CIE規(guī)定了如下6種幾何條件

(1) 垂直/垂直幾何條件(0°:0°)

如下圖,入射與測(cè)量的幾何條件都是*相同的正圓錐狀,正圓錐的軸位于取樣孔徑中心的法線上,半角是 5°,取樣孔徑的面輻射和角輻射以及探測(cè)器的面響應(yīng)和角度響應(yīng)都是均勻的。

CIE的透射測(cè)量0°:0°幾何條件

(2) 漫射/垂直幾何條件,包含規(guī)則成分(di:0°)

如下圖所示,取樣孔徑被以*參考平面為界的半球從各個(gè)方向均勻地照明,測(cè)量光束與0°:0°幾何條件的規(guī)定相同。

CIE的透射測(cè)量di:0°幾何條件

(3) 漫射/垂直幾何條件,排除規(guī)則成分(de:0°)

該幾何條件滿足di:0°,但當(dāng)開放取樣孔徑(例如不放置樣品),測(cè)量取樣孔徑中心時(shí),沒有直射到探測(cè)器的光,并且在1°以內(nèi)也沒有直射光。

(4) 垂直/漫射幾何條件,包含規(guī)則成分(0°:di)

該幾何條件與di:0°相反, 如下圖所示。

CIE的透射測(cè)量的0°:di 幾何條件

(5) 垂直/漫射幾何條件,排除規(guī)則成分(0°:de)

該幾何條件的光源和探測(cè)器的位置與de:0°相反。

6) 漫射/漫射幾何條件(d:d)。

該幾何條件的取樣孔徑被以*參考平面為界的半球從各個(gè)角度均勻地照明,透射通量被以第二參考平面為界的半球均勻地從各個(gè)角度接收, 如下圖所示

CIE的透射測(cè)量的d:d幾何條件

CIE規(guī)定,在以上測(cè)量幾何條件中,排除規(guī)則成分條件下測(cè)量的量是透射因數(shù),其余均為透射比。

 

 

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